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叶面积指数测量仪

更新时间:2020-08-06

简要描述:

叶面积指数测量仪这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下, 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法,该方法是各类方法中准确和最省力、省时、快捷方便的方法。

叶面积指数测量仪这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下, 植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法,该方法是各类方法中准确和最省力、省时、快捷方便的方法。

叶面积指数测量仪可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数,叶面积指数和叶片平均倾角等,可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较;可对农田作物群体生长过程进行动态监测适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学;

叶面积指数,亦称叶面积系数。是指单位土地面积上植物叶片总面积占土地面积的倍数 。它与植被的密度、结构(单层或复层)、树木的生物学特性(分枝角、叶着生角、耐荫性等)和环境条件(光照、水分、土壤营养状况)有关,是表示植被利用光能状况和冠层结构的一个综合指标。

<strong><strong><strong><strong>叶面积指数测量仪</strong></strong></strong></strong>

叶面积指数是反映作物群体大小的较好的动态指标。叶面积指数可以反映在一定的范围内,作物的产量随叶面积指数的增大而提高。当叶面积指数增加到一定的限度后,田间郁闭,光照不足,光合效率减弱,产量反而下降。苹果园的最大叶面积指数一般不超过5.能维持在3~4较为理想。盛果期的红富士苹果园,生长期亩枝量维持在10~12万条之间,叶面积指数基本能达到较为适宜的指标。

原理与方法

采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。

测量参数

叶面积指数

叶片平均倾角

散射辐射透过率

不同太阳高度角下的直射辐射透过率

不同太阳高度角下的消光系数

叶面积密度的方位分布

功能特点

非破坏性地测定冠层结构

可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)

手持式万向接头自动水平调整探头,无需三角架

随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样,即时决定图像的取舍

由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量,尤其适合完成野外繁重的观测任务

镜头角度:150°(或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要,180°鱼眼镜头经常不适合

孔隙测量原理与方法所假设的前提条件,用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)

 

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